1、薄涂層的測量準que度和厚度沒有任何關系，是一個常數(shù)，厚涂層的測量準que度是一個近似恒定的分數(shù)和厚度的乘積。

2、基體磁性的變化會影響測量的數(shù)據(jù)，所以涂鍍層測厚儀校準時要采用材質和試樣基體一樣的校準；

采用待鍍產(chǎn)品做基體實行儀器校準，以防止不一樣的個體或局部熱處理和冷加工影響測量數(shù)據(jù)。

3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內(nèi)轉角處的測量數(shù)據(jù)往往是不牢靠的，這種效應或許從不持續(xù)處向前延續(xù)約20mm。
4、涂鍍層測厚儀測量曲面時，數(shù)據(jù)隨曲率半徑的減小而開始顯著。