1.磁性法
當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過(guò)測(cè)量其變化量，可測(cè)得其覆層的厚度。
2.渦流法
利用高頻交變電流線圈中產(chǎn)生一磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與金屬接觸時(shí)，金屬基體上會(huì)產(chǎn)生渦流，并對(duì)測(cè)頭具有反饋?zhàn)饔?，通過(guò)其反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓽y(cè)出覆層厚度。